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| 42번째 줄: | 42번째 줄: | ||
* 높은 단위의 숫자가 같으면 성질이 비슷해야 함. | * 높은 단위의 숫자가 같으면 성질이 비슷해야 함. | ||
* '''설명이 미비한 세부 품목 (예시: "''부분품''")이 있으면 그것보다 상단에 있는 것의 부분설명일 가능성이 높음.''' | * '''설명이 미비한 세부 품목 (예시: "''부분품''")이 있으면 그것보다 상단에 있는 것의 부분설명일 가능성이 높음.''' | ||
** 예시: | |||
=== 자주 찾는 번호 === | === 자주 찾는 번호 === | ||
{| class="wikitable" | |||
|+ | |||
! | |||
! | |||
! rowspan="2" |HSCode | |||
! colspan="2" |(호) 설명 | |||
|- | |||
!예시 | |||
!상세 | |||
!대분류 | |||
!중소분류 | |||
|- | |||
|HIC 조립 시 FPC | |||
| | |||
|8534.00-2000 | |||
|인쇄회로 | |||
|테이프형이나 리드프레임(lead frame) 기능을 하는 회로가 형성된 것 | |||
|- | |||
|조립 후 HIC | |||
| | |||
|8542.39-2000 | |||
|전자집적회로 | |||
|기타 - 하이브리드집적회로 | |||
|- | |||
|DAQ Board, 프로브카드 | |||
|반도체소자 검사용 보드 | |||
|9030.82-0000 | |||
|오실로스코프 (…) 전리선의 검사용이나 검출용 기기 | |||
|반도체 웨이퍼나 소자(집적회로를 포함한다)의 측정용이나 검사용 | |||
|- | |||
|DAQ Board | |||
|방사선 검출기 부속품으로서의 품목 | |||
|9030.90-9000 | |||
|오실로스코프 (…) 전리선의 검사용이나 검출용 기기 | |||
|부분품과 부속품 - 기타 | |||
|- | |||
|오실로스코프 | |||
| | |||
|9030.20-0000 | |||
|오실로스코프 (…) 전리선의 검사용이나 검출용 기기 | |||
|오실로스코프(oscilloscope)와 오실로그래프(oscillograph) | |||
|- | |||
|ALICIA | |||
|반도체소자 검사용 기기 | |||
|9031.80-9099 | |||
|그 밖의 측정용이나 검사용 기기<ref>90류(광학기기ㆍ사진용 기기ㆍ영화용 기기ㆍ측정기기ㆍ검사기기ㆍ | |||
정밀기기ㆍ의료용 기기, 이들의 부분품과 부속품)에 따로 분류되지 않은 것으로 한정.</ref>와 윤곽 투영기 | |||
|기타 | |||
|- | |||
|실리콘 검출기 | |||
|검출기로서의 품목 | |||
|9030.10-0000 | |||
* 9030.10-0000 | |오실로스코프 (…) 전리선의 검사용이나 검출용 기기 | ||
* 8542.39-1000 | |전리선의 검사용이나 검출용 기기 | ||
|- | |||
|실리콘 검출기 | |||
|Monolithic 집적 회로로의 품목 | |||
|8542.39-1000 | |||
|전자집적회로 | |||
|기타 - 모노리식(monolithic) 집적 회로 | |||
|- | |||
|실리콘 검출기 | |||
|캐리어보드 위에 조립됨 | |||
검출기 용도로 활용하지 않는 경우 | |||
|8542.39-2000 | |||
|전자집적회로 | |||
|기타 - 하이브리드집적회로 | |||
|- | |||
|실리콘 검출기 | |||
|테스트 후 | |||
검출기 용도로 사용하지 않는 경우 | |||
|8541.49-1000 | |||
|반도체 디바이스, 발광다이오드, 장착된 압전기 결정소자 | |||
|기타 - 칩, 다이스와 절단되지 않은 웨이퍼 | |||
|} | |||
=== 주의사항 === | |||
* 같은 물건이라 할지라도, 용도<ref>https://www.weeklytrade.co.kr/m/content/view.html?section=1&category=4&no=84226</ref>나 공정진행에 따라 HSCode 는 바뀔 수 있음. | |||
** ALPIDE 실리콘검출기의 경우 | |||
*** 생산 직후 8542.39-1000 → 테스트한 후 (검출기로의 가치가 생김) 9030.10-0000 → 이후 조립하여서 작동하면 그대로, 작동하지 않으면 8542.39-2000 | |||
*** 생산 직후 8542.39-1000 → 테스트한 후 (bad chip) 8541.49-1000 → (파괴검사용으로 조립) 8542.39-2000 | |||
* 신고되는 HSCode 에 따라, 전략물자일 수도 있고, 관세도 달라짐 | |||
== Incoterms == | == Incoterms == | ||